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| 温度冲击试验箱各标准的应用对象分析 |
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| 时间：2015/3/30 8:48:51 |
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温度冲击试验箱GJB150、GB/T2423和MIL一STD一8lOF这三个系列标准中的温度冲击试验应用的产品层次略有不同。GJB150规定只适用于设备，而810F和GB2423中规定可适用于元器件、部件、设备等各个组装等级。GJB150是以美军标810C/D两个版本为基础制定的，美军标体系中元器件温度冲击试验另有单独的试验标准MIL-STD-202F《电工电子元器件环境试验方法》。我国也以202F标准为基础制定了我国的标准GJB360《电工电子元器件环境试验方法》，这两个标准中均有温度冲击试验分标准。因此，温度冲击试验箱GJB150和810C/D中温度冲击试验应用产品仅限于设备。GB/T2423系列标准属于欧洲电工委员会（IEC）标准的体系，尚未发现该标准体系中单独给出元器件的环境试验方法标准。然而810F中规定出适用于元部件，这与202F标准是矛盾的，不够合理，目前没有见到作如此规定的说明。
注：GJB 360.7-1987《电子及电气元件试验方法 温度冲击试验》
GJB150.5A-2009《军用装备实验室环境试验方法第5部分：温度冲击试验》 |
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